Search for content and authors
 

Modułowy system mikroskopu STM/AFM

Wielisław Olejniczak 2Andrzej Majcher 1Sławomir Pawłowski 2Piotr Kobierski 2Michał Piskorski 2Zbigniew A. Klusek 2Andrzej Zbrowski 1Mirosław Mrozek 1

1. Institute for Sustainable Technologies (ITEE-PIB), Pulaskiego 6/10, Radom 26-600, Poland
2. Uniwersytet Łódzki, Instytut Fizyki, Katedra Fizyki Ciała Stałego (IFUŁ), Pomorska 149/153, Łódź 90-236, Poland

Abstract

Skaningowe mikroskopy próbkujące (Scanning Probe Microscopy - SPM) są obecnie powszechnie używanym narzędziem niemal we wszystkich dziedzinach nauki i techniki, gdzie występuje potrzeba charakteryzacji struktur na poziomie atomów i molekuł. Prezentacja przedstawia najbardziej rozpowszechnione typy SPM - skaningowy mikroskop tunelowy (STM) oraz mikroskop sił atomowych (AFM), zbudowane jak modułowy system do pomiarów obiektów w z rozdzielczością atomową.

System przeznaczony jest do zastosowań dydaktycznych, w których istotna jest głównie prostota obsługi oraz do zastosowań naukowych, w których występuje potrzeba opracowania i zestawienia niestandardowego układu pomiarowego, zawierającego elementy i procedury zaprojektowane przez użytkownika.

Prostotę obsługi uzyskano m. in. poprzez:

  • konstrukcję głowicy mikroskopu (rys.1a) umożliwiającą szybką zmianę belki pomiarowej (tryby pracy STM i AFM), zmianę piezoskanera (zakres i rozdzielczość skanowania), regulację w dwóch osiach położenia fotodiody pomiarowej oraz podgląd mierzonej próbki i belki pomiarowej (cantilevera) dwiema kamerami CCD,
  • automatyzację zbliżania próbki do punktu uzyskania efektu prądu tunelowego (STM) lub zadanej wartości sił oddziaływania cantilever - próbka (AFM),
  • zastosowania dodatkowego panela operatora (rys.1b) pozwalającego na łatwe strojenie układu optycznego mikroskopu poprzez naprowadzanie elementu światłoczułego na odbitą od cantilevera wiązkę światła laserowego.

 

glowica_pomiarowa.jpg

 Rys. 1a. Widok głowicy mikroskopu STM/AFM

 

panel_operatorski.jpg

Rys. 1b. Widok panela operatorskiego mikroskopu STM/AFM

W zastosowaniach badawczych, w odróżnieniu od przyrządów konkurencyjnych, opisywany mikroskop STM/AFM charakteryzuje się otwartością konstrukcji polegająca na możliwości wprowadzania własnych metod i procedur pomiarowych, zarówno na poziomie sprzętowych układów elektronicznych jak i oprogramowania.

Sterownik mikroskopu wykorzystuje magistralę VME z wymiennymi modułami elektronicznymi realizującymi podstawowe funkcje urządzenia. Dostępne są także moduły zawierające jedynie układ FPGA stanowiący interfejs pomiędzy magistrala komunikacyjną a dedykowanym układem użytkownika. Umożliwia to sprzętową realizację np.: własnych pętli regulacji oraz układów kondycjonowania i pomiarów dodatkowych sygnałów. W części oprogramowania układy te są obsługiwane przez konfigurowalne i programowalne bloki funkcyjne.

Wysoką funkcjonalność zestawu mikroskopu STM/AFM przedstawiono na przykładzie charakteryzacji kropek kwantowych z InSa/GaAs (rys.2). Podczas pierwszego skanowania próbki usunięto zanieczyszczenia powstałe na skutek długotrwałego oddziaływania tlenu atmosferycznego (rys.2a). Dla pozbawionego zanieczyszczeń obszaru (rys.2b) wybrano trzy sąsiadujące kropki (rys.2c) i wykonano pomiar profilu powierzchni (rys.2d). Charakteryzację uzupełniono obrazami 3D w różnych powiększeniach (rys.2e,f).

a)

Rys2a.jpg

b)

Rys2b.jpg

c)

Rys2c.jpg

d)

Rys2d.jpg

e)

Rys2e.jpg

f)

Rys2f.jpgRys. 2. Etapy charakteryzacji samozorganizowanych kropek kwantowych z InSa/GaAs wykonanych techniką MBE (Molecular Beam Epitaxy), opis w tekście

 

Szerokie możliwości zastosowań mikroskopu STM/AFM, szczególnie w badaniach materiałowych, technologiach elektronowych, nanotechnologiach, dopełniane są niskimi kosztami eksploatacji i serwisu.

 

 

Legal notice
  • Legal notice:
 

Related papers

Presentation: Poster at Nanotechnologia PL, by Andrzej Majcher
See On-line Journal of Nanotechnologia PL

Submitted: 2010-03-11 19:04
Revised:   2010-04-30 09:32